Parametry
Opis produktu
Przetworniki danych
Przetworniki danych
Autor: FRANCO MALOBERTI
ISBN: 978-83-206-1775-7
Wydanie: 1 / 2010
Tłumacz: Michał Nadachowski
Format: B5
Liczba stron: 444
Liczba ilustracji: 312
Oprawa: miękka
Opis
Podręcznik poświęcony współczesnym przetwornikom analogowo-cyfrowym (A/C) i cyfrowo-analogowym (C/A). Zawiera wszystkie informacje niezbędne do pełnego zrozumienia zagadnień próbkowania, kwantyzacji oraz szumu w systemach z danymi spróbkowanymi, parametrów charakteryzujących poszczególne przetworniki, metod stosowanych w przetwornikach pracujących zgodnie z częstotliwością Nyquista i analizy ich właściwości, działania przetworników z nadpróbkowaniem i sigma-delta wraz z przykładami, jak również metod korekcji i kalibracji cyfrowej, testowania i opisu sposobów przetwarzania danych przy testowaniu i pomiarach parametrów.
Odbiorcy książki: studenci wydziałów elektroniki i technik informacyjnych wyższych uczelni technicznych, inżynierowie elektronicy oraz wszyscy zainteresowani współczesnymi przetwornikami A/C i C/A.
Spis treści
- Wykaz wybranych skrótów angielskich 11
- Przedmowa 13
Rozdział 1
Wiadomości podstawowe
- 17
- 1.1. Idealny przetwornik danych 17
- 1.2. Próbkowanie 18
- 1.2.1. Podpróbkowanie 25
- 1.2.2. Jitter czasu próbkowania 27
- 1.3. Kwantyzacja wartości sygnału 30
- 1.3.1. Szum kwantyzacji 32
- 1.3.2. Właściwości szumu kwantyzacji 33
- 1.4. Szum
kT/C
- 37
- 1.5. Dyskretne i szybkie przekształcenia Fouriera 40
- 1.6. Sposoby zapisu 47
- 1.7. Przetwornik c/a 48
- 1.7.1. Odtwarzanie idealne 49
- 1.7.2. Odtwarzanie rzeczywiste 49
- 1.8. Przekształcenie
Z
- 53
- Zadania 57
- Literatura 59
Rozdział 2
Parametry przetworników danych
- 60
- 2.1. Rodzaj przetwornika 60
- 2.2. Warunki pracy 61
- 2.3. Podział parametrów 63
- 2.4. Właściwości ogólne 63
- 2.5. Parametry statyczne 64
- 2.6. Parametry dynamiczne 73
- 2.7. Parametry związane z przełączaniem i z sygnałami cyfrowymi 84
- Zadania 85
- Literatura 86
Rozdział 3
Przetworniki cyfrowo-analogowe pracujące zgodnie z częstotliwością Nyquista
- 88
- 3.1. Wprowadzenie 88
- 3.1.1. Zastosowania przetworników c/a 90
- 3.1.2. Źródła napięcia i prądu odniesienia 91
- 3.2. Rodzaje przetworników 93
- 3.3. Układy z sieciami rezystorów 93
- 3.3.1. Dzielnik rezystorowy 94
- 3.3.2. Wybór X-Y 96
- 3.3.3. Ustalanie się napięcia wyjściowego 97
- 3.3.4. Metoda segmentowa 100
- 3.3.5. Wpływ niedopasowania 102
- 3.3.6. Trymowanie i kalibracja 105
- 3.3.7. Potencjometr cyfrowy 108
- 3.3.8. Przetworniki c/a z drabinką rezystorową
R-2R
- 108
- 3.3.9. Usuwanie zakłóceń szpilkowych 116
- 3.4. Układy z sieciami kondensatorów 117
- 3.4.1. Przetwornik c/a z dzielnikiem pojemnościowym 118
- 3.4.2. Pojemnościowy przetwornik MDAC 121
- 3.4.3. Przetworniki typu
flip-around
- MDAC 122
- 3.4.4. Hybrydowe przetworniki c/a pojemnościowo-rezystorowe 124
- 3.5. Układy ze źródłami prądowymi 125
- 3.5.1. Podstawy działania 125
- 3.5.2. Jednostkowe źródło prądowe 128
- 3.5.3. Losowe niedopasowanie z wyborem jednostkowym 132
- 3.5.4. Wybór źródeł prądowych 133
- 3.5.5. Przełączanie prądów i segmentacja 135
- 3.5.6. Przełączanie źródeł prądowych 139
- 3.6. Inne rozwiązania 142
- Zadania 146
- Literatura 148
Rozdział 4
Przetworniki analogowo-cyfrowe pracujące zgodnie z częstotliwością Nyquista
- 151
- 4.1.Wprowadzenie 151
- 4.2. Dokładność zależności czasowych 153
- 4.2.1. Błędy czasowe 153
- 4.2.2. Błąd metastabilności 156
- 4.3. Przetworniki fleszowe jednostopniowe (pełnofleszowe) 157
- 4.3.1. Napięcia odniesienia 157
- 4.3.2. Niezrównoważenie komparatorów 160
- 4.3.3. Autozerowanie niezrównoważenia 162
- 4.3.4. Ograniczenia praktyczne 165
- 4.4. Dzielenie na podzakresy i przetworniki dwustopniowe 167
- 4.4.1. Wymagania dotyczące dokładności 169
- 4.4.2. Przetwarzanie dwustopniowe jako proces nieliniowy 174
- 4.5. Składanie sygnałów i interpolacja 175
- 4.5.1. Składanie podwójne 177
- 4.5.2. Interpolacja 178
- 4.5.3. Zastosowanie interpolacji w przetwornikach fleszowych 179
- 4.5.4. Zastosowanie interpolacji w przetwornikach ze składaniem sygnałów 180
- 4.5.5. Interpolacja w celu poprawy liniowości 181
- 4.6. Przetworniki z przeplotem czasowym 185
- 4.7. Przetwornik z kompensacją równoległą 188
- 4.7.1. Błędy i ich korekcja 191
- 4.7.2. Redystrybucja ładunku 193
- 4.8. Przetworniki potokowe 194
- 4.8.1. Wymagania dotyczące dokładności 198
- 4.8.2. Korekcja cyfrowa 199
- 4.8.3. Parametry dynamiczne 205
- 4.8.4. Układ wytwarzający sygnał reszty danych spróbkowanych 208
- 4.9. Inne metody 209
- 4.9.1. Przetwornik cykliczny (lub algorytmiczny) 210
- 4.9.2. Przetwornik całkujący 211
- 4.9.3. Przetwornik napięcie-częstotliwość 213
- Zadania 214
- Literatura 216
Rozdział 5
Elementy układowe przetworników danych
- 219
- 5.1. Układy próbkująco-pamiętające 219
- 5.2. Układ p/p z mostkiem diodowym 220
- 5.2.1. Niedoskonałości mostka diodowego 221
- 5.2.2. Ulepszony mostek diodowy 222
- 5.3. Przełączany wtórnik emiterowy 223
- 5.3.1. Realizacja układu 224
- 5.3.2. Komplementarny, bipolarny układ p/p 226
- 5.4. Właściwości układów p/p z tranzystorami bipolarnymi 227
- 5.5. Układ próbkująco-pamiętający CMOS 232
- 5.5.1. Przenikanie przebiegu zegarowego 233
- 5.5.2. Kompensacja przenikania przebiegu zegarowego 235
- 5.5.3. Dwustopniowy wzmacniacz OTA jako układ śledząco-pamiętający 237
- 5.5.4. Wykorzystanie masy pozornej w układach p/p CMOS 238
- 5.5.5. Analiza szumowa 240
- 5.6. Przełącznik CMOS o małym napięciu zasilającym 245
- 5.6.1. Zasada działania 245
- 5.6.2. „Bootstrapping” przełącznika 247
- 5.7. Wzmacniacze składające sygnał 249
- 5.7.1. Składanie sygnałów prądowych 250
- 5.7.2. Składanie sygnałów napięciowych 251
- 5.8. Konwerter napięcie-prąd 252
- 5.9. Wytwarzanie przebiegu zegarowego 256
- Zadania 257
- Literatura 259
Rozdział 6
Nadpróbkowanie i modulatory ΣΔ niskiego rzędu
- 261
- 6.1.Wprowadzenie 261
- 6.1.1. Zalety nadpróbkowania 261
- 6.1.2. Modulacja delta i sigma-delta 263
- 6.2. Kształtowanie szumów 264
- 6.3. Modulator pierwszego rzędu 265
- 6.3.1. Wyjaśnienia intuicyjne 270
- 6.3.2. Zastosowanie kwantyzacji jednobitowej 271
- 6.4. Modulator drugiego rzędu 273
- 6.5. Projektowanie układu 275
- 6.5.1. Niezrównoważenie 276
- 6.5.2. Skończona wartość wzmocnienia wzmacniacza operacyjnego 276
- 6.5.3. Skończona wartość pasma częstotliwości wzmacniacza operacyjnego 279
- 6.5.4. Skończona wartość szybkości zmian napięcia wyjściowego wzmacniacza operacyjnego 280
- 6.5.5. Nieidealne działanie przetwornika a/c 283
- 6.5.6. Nieidealne działanie przetwornika c/a 283
- 6.6. Projektowanie systemów 284
- 6.6.1. Zakres dynamiczny integratora 284
- 6.6.2. Optymalizacja zakresu dynamicznego 289
- 6.6.3. Realizacja modulatora danych spróbkowanych 295
- 6.6.4. Analiza szumów 297
- 6.6.5. Błąd kwantyzacji i dithering 301
- 6.6.6. Kwantyzatory jednobitowe i wielobitowe 303
- Zadania 306
- Literatura 307
Rozdział 7
Przetworniki ΣΔ o czasie ciągłym, wysokiego rzędu i przetworniki c/a ΣΔ
- 310
- 7.1. Zwiększenie stosunku sygnału do szumu 310
- 7.2. Wysokiego rzędu kształtowanie szumu 312
- 7.2.1. Rozwiązania jednostopniowe 315
- 7.2.2.Analiza stabilności 316
- 7.2.3. Sprzężenie zwrotne z sumowaniem wagowym 318
- 7.2.4. Modulator ze sprzężeniem lokalnym 321
- 7.2.5. Łańcuch integratorów z rozłożonym sprzężeniem zwrotnym 323
- 7.2.6. Kaskadowy modulator ΣΔ 324
- 7.2.7. Zakres dynamiczny MASH 328
- 7.3. Modulatory ΣΔ
- 7.3.1. Ograniczenia układu próbkująco-pamiętającego 333
- 7.3.2. Realizacje układów o czasie ciągłym (CT) 335
- 7.3.3. Projektowanie układów o czasie ciągłym (CT) na podstawie
- równoważnych im układów z danymi spróbkowanymi 339
- 7.4. Pasmowoprzepustowy modulator ΣΔ 342
- 7.4.1. System
N
- -torowy z przeplotem 345
- 7.4.2. Synteza funkcji przenoszenia szumów (NTF) 350
- 7.5. Przetworniki c/a z nadpróbkowaniem 352
- 7.5.1. Przetwornik c/a 1-bitowy 353
- 7.5.2. Podwójny przetwornik c/a z powrotem do zera 357
- Zadania 358
- Literatura 361
Rozdział 8
Udoskonalone metody cyfrowe
- 364
- 8.1.Wprowadzenie 364
- 8.2. Pomiary błędów 365
- 8.3.Trymowanie elementów 367
- 8.4. Kalibracja z priorytetem 369
- 8.5. Kalibracja w tle 372
- 8.5.1. Wzmocnienie i niezrównoważenie w przetwornikach z przeplotem 375
- 8.5.2. Kalibracja niezrównoważenia bez redundancji 375
- 8.6. Dopasowanie dynamiczne 378
- 8.6.1. Randomizacja motylkowa 381
- 8.6.2. Indywidualne uśrednianie poziomu 386
- 8.6.3. Ważone uśrednianie danych 390
- 8.7. Decymacja i interpolacja 395
- 8.7.1. Decymacja 395
- 8.7.2. Interpolacja 399
- Zadania 402
- Literatura 402
Rozdział 9
Testowanie przetworników a/c i c/a
- 405
- 9.1.Wprowadzenie 405
- 9.2. Karta testująca 407
- 9.3. Test jakości i niezawodności 409
- 9.4. Przetwarzanie danych pomiarowych 411
- 9.4.1. Wykres najlepszego dopasowania 411
- 9.4.2. Dopasowanie przebiegu sinusoidalnego 413
- 9.4.3. Metoda histogramowa 414
- 9.5. Statyczne testowanie przetworników c/a 418
- 9.5.1. Test charakterystyki przenoszenia 418
- 9.5.2. Sumowanie błędów 419
- 9.5.3. Błędy nieliniowości 420
- 9.6. Dynamiczne testowanie przetworników c/a 421
- 9.6.1. Właściwości widmowe 422
- 9.6.2. Czas przetwarzania 423
- 9.6.3. Energia zakłócenia impulsowego 424
- 9.7. Testowanie statyczne przetworników a/c 425
- 9.7.1. Cel testu statycznego 425
- 9.7.2. Pomiar granicy wyjściowego słowa cyfrowego 427
- 9.8. Dynamiczne testowanie przetworników a/c 429
- 9.8.1. Parametry w dziedzinie czasu 429
- 9.8.2. Poprawienie czystości fal sinusoidalnych 431
- 9.8.3. Pomiar niepewności aperturowej 432
- 9.8.4. Pomiar czasu ustalania 434
- 9.8.5. Zastosowanie FFT do testowania 435
- Zadania 437
- Literatura 438
- o czasie ciągłym 331
o czasie ciągłym, wysokiego rzędu i przetworniki c/a ΣΔ
- 310
http://infocars24.pl/img/p/6/0/8/4/6084.jpg?t=1632143122?t=1632143122infocars_1944

